電纜光纜低溫卷繞試驗(yàn)裝置排名

發(fā)布日期：2016-11-07      瀏覽次數(shù)：953

電纜光纜低溫卷繞試驗(yàn)裝置排名符合GB2951.14-2008、GB/T2951.4-1997《電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法：通用試驗(yàn)方法—低溫試驗(yàn)》、JB∕T4278.11-2011、GB2099-2008、VDE0472和IEC884-1等標(biāo)準(zhǔn)適用于考核測(cè)定圓形電纜或圓形絕緣線芯在低溫狀態(tài)下的性能，與低溫箱配套使用本試驗(yàn)一般適用于外徑12.5mm及以下的圓形絕緣線芯及不能制備啞鈴試件的扇形絕緣線芯

KTR007低溫卷繞試驗(yàn)裝置
1、本試驗(yàn)一般適用于外徑12.5mm及以下的圓形絕緣線芯及不能制備啞鈴試件的扇形絕緣線芯。若有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，試驗(yàn)應(yīng)在大尺寸絕緣線芯上進(jìn)行。否則，大尺寸絕緣線芯應(yīng)進(jìn)行低溫拉伸試驗(yàn)。符合GB/T2951.14-2008和GB/T2951.4-1997。
2、取樣和試樣制備
從每個(gè)被試絕緣線芯上取兩根適當(dāng)長(zhǎng)度的試樣。如有外護(hù)層，應(yīng)除去后才能作為試樣。
3、試驗(yàn)儀器
本試驗(yàn)推薦采用的試驗(yàn)設(shè)備參見(jiàn)圖1及注釋。它基本上由一旋轉(zhuǎn)軸和試樣導(dǎo)向裝置組成。也可使用實(shí)際上與圖1設(shè)備相當(dāng)?shù)牧硪环N單軸設(shè)備。此試驗(yàn)設(shè)備在試驗(yàn)前及試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)放置在低溫箱內(nèi)。
4、試驗(yàn)步驟
試樣應(yīng)按圖1所示固定在設(shè)備上。
裝好試樣的設(shè)備應(yīng)在規(guī)定溫度的低溫箱內(nèi)放置不少于16h。16h的冷卻時(shí)間包括冷卻設(shè)備所必需的時(shí)間。
如果試驗(yàn)設(shè)備已預(yù)冷，只要試樣已達(dá)到規(guī)定的試驗(yàn)溫度。則允許縮短冷卻時(shí)間，但不得少于4h。如果試驗(yàn)設(shè)備和試樣均已預(yù)冷，則將每個(gè)試樣固定在試驗(yàn)設(shè)備上后冷卻1h就足夠了。
規(guī)定的冷卻時(shí)間結(jié)束后，旋轉(zhuǎn)試棒，使試樣整齊地在試棒上卷繞成緊密的螺旋。如果是扇形試樣，則試樣的圓形“背部”應(yīng)與試棒接觸。
然后，將試樣保持在試棒上，使其恢復(fù)到接近環(huán)境溫度。
5、試驗(yàn)條件
試驗(yàn)溫度按有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
試棒的直徑應(yīng)為試樣直徑的4~5倍
試棒應(yīng)以約每5s轉(zhuǎn)一圈的速率勻速旋轉(zhuǎn)，卷繞圈數(shù)按下表規(guī)定：
試樣外徑，mm旋轉(zhuǎn)圈數(shù)
d≤2.510
2.5<d≤4.56
4.5<d≤6.54
6.5<d≤8.53
8.5<d2
每一試樣的實(shí)際直徑應(yīng)用游標(biāo)卡尺或測(cè)量帶進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于扇形試樣，以短軸作為等效直徑來(lái)確定試棒直徑和卷繞圈數(shù)。

若有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，試驗(yàn)應(yīng)在大尺寸絕緣線芯上進(jìn)行；否則，大尺寸絕緣線芯應(yīng)進(jìn)行低溫拉伸試驗(yàn)本試驗(yàn)推薦采用的試驗(yàn)設(shè)備參見(jiàn)圖1及注釋，它基本上由一旋轉(zhuǎn)軸和試樣導(dǎo)向裝置組成；也可使用實(shí)際上與圖1設(shè)備相當(dāng)?shù)牧硪环N單軸設(shè)備此試驗(yàn)設(shè)備在試驗(yàn)前及試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)放置在低溫箱內(nèi)